Helios 5 DualBeam dari Symerfischer Technology memiliki kinerja pencitraan dan analisis berkinerja tinggi dari seri produk Helios 5. Ini dirancang untuk memenuhi kebutuhan ilmu bahan peneliti dan insinyur untuk berbagai penggunaan FIB-SEM, bahkan sampel yang menantang.

Helios 5 DualBeam mendefinisikan ulang standar pencitraan resolusi tinggi: kontras bahan, persiapan sampel berkualitas tinggi yang cepat, sederhana, dan akurat untuk pencitraan S/TEM dan tomografi probe atom (APT), serta karakterisasi subpermukaan dan 3D. Berdasarkan kinerja yang sudah terbukti dari seri Helios DualBeam, Helios 5 DualBeam dioptimalkan dengan perbaikan yang dirancang untuk memastikan sistem berjalan dalam alur kerja manual atau otomatis.

Parameter teknis industri semikonduktor:

Parameter Teknis Industri Ilmu Bahan:

Lebih mudah digunakan:

Helios 5 adalah sistem DualBeam yang mudah digunakan untuk pengguna dari semua tingkat pengalaman. Pelatihan operator dapat dipersingkat dari beberapa bulan menjadi beberapa hari, dan desain sistemnya membantu semua operator mencapai hasil yang konsisten dan dapat diulang di berbagai aplikasi.

Meningkatkan produktivitas:

Otomatisasi canggih, keandalan dan stabilitas perangkat lunak Helios 5 dan AutoTEM 5 memungkinkan operasi tanpa pengawasan bahkan di malam hari, meningkatkan aliran persiapan sampel secara signifikan.

Meningkatkan waktu dan hasil:

Helios 5 DualBeam memperkenalkan teknologi FLASH yang menyesuaikan gambar halus. Dengan teknologi FLASH, Anda hanya perlu melakukan operasi mouse sederhana di antarmuka pengguna, dan sistem dapat melakukan "real-time" untuk menghilangkan gambar, menentarakan lensa, dan fokus gambar. Penyesuaian otomatis dapat meningkatkan aliran, kualitas data dan menyederhanakan pengambilan gambar berkualitas tinggi. Rata-rata, teknologi FLASH dapat mengurangi waktu yang dibutuhkan untuk mendapatkan gambar yang dioptimalkan 10 kali lipat.